Saltar ao contenido
VuFind
  • Entrar
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avanzado
  • Citar
  • Text this
  • Enviar este rexistro por email
  • Imprimir
  • Exportar rexistro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Engadir a favoritos
  • Permanent link
Imaxe de Portada

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Main Authors: Andronic, Anton, Becht, Pascal, Blidaru, Mihail Bogdan, Bruno, Giuseppe Eugenio, Carnesecchi, Francesca, Chizzali, Emma, Colella, Domenico, Colocci, Manuel, Contin, Giacomo, Fabbietti, Laura, Gernhäuser, Roman, Hillemanns, Hartmut, Jacazio, Nicolo, Kalweit, Alexander Philipp, Kluge, Alex, Kotliarov, Artem, Křížek, Filip, Lautner, Lukas, Mager, Magnus, Martinengo, Paolo, Masciocchi, Silvia, Menzel, Marius Wilm, Mulliri, Alice, Reidt, Felix, Ricci, Riccardo, Russo, Roberto, Schledewitz, David, Scioli, Gilda, Senyukov, Serhiy, Siddhanta, Sabyasachi, Sonneveld, Jory, Stachel, Johanna, Šuljić, Miljenko, Tiltmann, Nicolas, Ramos, Arianna Grisel Torres, Ulukutlu, Berkin, Usai, Gianluca, Van Beelen, Jacob Bastiaan, Wu, Yitao, Yüncü, Alperen
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Subjects:
Instrumentation and Detectors
Acceso en liña:https://arxiv.org/abs/2502.04941
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
  • Existencias
  • Descripción
  • Table of Contents
  • Comentarios
  • Títulos similares
  • Staff View
Sexa o primeiro en deixar un comentario!
You must be logged in first

Títulos similares

  • A Novel Approach for Fault Detection and Failure Analysis of CMOS Copper Metal Stacks
    por: Eberwein, Gregor Hieronymus, et al.
    Publicado: (2026)
  • Further Characterisation of Digital Pixel Test Structures Implemented in a 65 nm CMOS Process
    por: Rinella, Gianluca Aglieri, et al.
    Publicado: (2025)
  • The limits of QGP-like effects towards smaller systems: from Pb-Pb down to pp and fixed-target collisions
    por: Jacazio, Nicolò
    Publicado: (2024)
  • Characterisation of analogue Monolithic Active Pixel Sensor test structures implemented in a 65 nm CMOS imaging process
    por: Rinella, Gianluca Aglieri, et al.
    Publicado: (2024)
  • Mathematical modelling of human motivation: a vector hypothesis
    por: Ivan Kotliarov
    Publicado: (2006)

Opciones de procura

  • Historial de Procuras
  • Procura avanzada

Buscar Máis

  • Revisar o catálogo
  • Lista alfabética
  • Explore Channels
  • Reservas de curso
  • Novos exemplares

Necesita Axuda?

  • Consello de procura
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes