Przejdź do treści
VuFind
  • Login
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Dodaj do listy ulubionych książek
  • Odnośnik bezpośredni
Okładka

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Olgun, Ataberk, Bostanci, F. Nisa, Yuksel, Ismail Emir, Canpolat, Oguzhan, Luo, Haocong, Oliveira, Geraldo F., Yaglikci, A. Giray, Patel, Minesh, Mutlu, Onur
Format: Preprint
Wydane: 2025
Hasła przedmiotowe:
Hardware Architecture
Cryptography and Security
Dostęp online:https://arxiv.org/abs/2502.13075
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Spis treści
  • Komentarze
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC
Napisz pierwszy komentarz!
Najpierw się zaloguj

Podobne zapisy

  • DiscoRD: An Experimental Methodology for Quickly Discovering the Reliable Read Disturbance Threshold of Real DRAM Chips
    od: Olgun, Ataberk, i wsp.
    Wydane: (2026)
  • Chronus: Understanding and Securing the Cutting-Edge Industry Solutions to DRAM Read Disturbance
    od: Canpolat, Oğuzhan, i wsp.
    Wydane: (2025)
  • ColumnDisturb: Understanding Column-based Read Disturbance in Real DRAM Chips and Implications for Future Systems
    od: Yüksel, İsmail Emir, i wsp.
    Wydane: (2025)
  • PuDHammer: Experimental Analysis of Read Disturbance Effects of Processing-using-DRAM in Real DRAM Chips
    od: Yuksel, Ismail Emir, i wsp.
    Wydane: (2025)
  • Revisiting DRAM Read Disturbance: Identifying Inconsistencies Between Experimental Characterization and Device-Level Studies
    od: Luo, Haocong, i wsp.
    Wydane: (2025)

Opcje wyszukiwania

  • Historia wyszukiwania
  • Wyszukiwanie zaawansowane

Dalsze opcje

  • Przeglądaj katalog
  • Przeglądaj alfabetycznie
  • Przeglądaj kanały
  • Aparaty semestralne
  • Nowe nabytki

Pomoc

  • Wskazówka do wyszukiwania
  • Zapytaj bibliotekarza
  • Często zadawane pytania