Hoppa till innehåll
VuFind
  • Logga in
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avancerad
  • Hänvisa
  • Textmeddelande
  • Skicka per e-post
  • Skriv ut
  • Exportera posten
    • Exportera till: RefWorks
    • Exportera till: EndNoteWeb
    • Exportera till: EndNote
  • Lägg till i favoriter
  • Permanent länk
Omslagsbild

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän: Reclik, Tom, Gerlach, Jan, Wollenweber, Maximilian A., Korkolis, Yannis P., Korte-Kerzel, Sandra, Kerzel, Ulrich
Materialtyp: Preprint
Publicerad: 2026
Ämnen:
Applied Physics
Materials Science
Instrumentation and Detectors
Länkar:https://arxiv.org/abs/2604.24769
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
  • Beståndsuppgifter
  • Beskrivning
  • Innehållsförteckning
  • Kommentarer
  • Liknande verk
  • Katalogiseringsuppgifter
Lägg till första kommentaren!
Du måste logga in först

Liknande verk

  • Resolution Enhancement of Scanning Electron Micrographs using Artificial Intelligence
    av: Reclik, Tom, et al.
    Publicerad: (2024)
  • AstroECP: towards more practical Electron Channeling Contrast Imaging
    av: Qaiser, M. Haroon, et al.
    Publicerad: (2025)
  • Pink-Beam Dark Field X-ray Microscopy: Expanding 3D/4D Imaging for Complex and Deformed Microstructures
    av: Yildirim, Can, et al.
    Publicerad: (2025)
  • Evaluating the Effective Segregation Coefficient in High-Purity Germanium (HPGe) Crystals for Ge Detector Development in Rare-Event Searches
    av: Chhetri, S., et al.
    Publicerad: (2025)
  • Direct Observation of Sub-Poissonian Temporal Statistics in a Continuous Free Electron Beam with Sub-picosecond Resolution
    av: Borrelli, S., et al.
    Publicerad: (2023)

Sökalternativ

  • Sökhistorik
  • Avancerad sökning

Sök mera

  • Bläddra i katalogen
  • Bläddra alfabetiskt
  • Utforska kanaler
  • Kursböcker
  • Nytt i katalogen

Behöver du hjälp?

  • Söktips
  • Fråga biblioteket
  • Vanliga frågor