محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | Recurso digital |
| اللغة: | |
| منشور في: |
Zenodo
2025
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://doi.org/10.5281/zenodo.14930684 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
جدول المحتويات:
- <p><em><span>This work is devoted to the analysis of electronic and crystalline characteristics, as well as the study of physicochemical properties of multilayer structures created based on Ta and Ni, depending on the depth of formation. The relevance of the study lies in the need to study the influence of depth parameters, layer thickness and formation methods on their electronic, crystalline and physicochemical properties.</span></em></p>