CISSE, M., Davy, N., Nodjiadjim, V., Ardouin, B., Mismer, C., Maneux, C., . . . Deng, M. (2025). Benefits of On-wafer Calibration for RF Characterization of InP DHBT Technology Devices. Zenodo.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)CISSE, Moussa, Nil Davy, Virginie Nodjiadjim, Bertrand Ardouin, Colin Mismer, Cristell Maneux, Franc¸ois Marc, i Marina Deng. Benefits of On-wafer Calibration for RF Characterization of InP DHBT Technology Devices. Zenodo, 2025.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)CISSE, Moussa, et al. Benefits of On-wafer Calibration for RF Characterization of InP DHBT Technology Devices. Zenodo, 2025.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..