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| Autore principale: | |
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| Natura: | Recurso digital |
| Lingua: | |
| Pubblicazione: |
Zenodo
2026
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://doi.org/10.5281/zenodo.20351652 |
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Sommario:
- SSP formalizes why same-substrate verification reduces noise but not bias. This version adds Section 5.5: Connection to R dimensionality testing. SSP explains why institutional resistance appears multi-dimensional (each measurement substrate captures a different resistance mode).