Anar al contingut
VuFind
  • Iniciar sessió
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avançada
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Afegir a favorits
  • Enllaç permanent
Imatge de la portada

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autors principals: Gawne, Thomas, Bellenbaum, Hannah, Fletcher, Luke B., Appel, Karen, Baehtz, Carsten, Bouffetier, Victorien, Brambrink, Erik, Brown, Danielle, Cangi, Attila, Descamps, Adrien, Göde, Sebastian, Hartley, Nicholas J., Herbert, Marie-Luise, Hesselbach, Philipp, Höppner, Hauke, Humphries, Oliver S., Konôpková, Zuzana, Garcia, Alejandro Laso, Lindqvist, Björn, Lütgert, Julian, MacDonald, Michael J., Makita, Mikako, Martin, Willow, Mishchenko, Mikhail, Moldabekov, Zhandos A., Nakatsutsumi, Motoaki, Naedler, Jean-Paul, Neumayer, Paul, Pelka, Alexander, Qu, Chongbing, Randolph, Lisa, Rips, Johannes, Toncian, Toma, Vorberger, Jan, Wollenweber, Lennart, Zastrau, Ulf, Kraus, Dominik, Preston, Thomas R., Dornheim, Tobias
Format: Preprint
Publicat: 2024
Matèries:
Plasma Physics
Instrumentation and Detectors
Accés en línia:https://arxiv.org/abs/2406.03301
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
  • Fons
  • Descripció
  • Taula de continguts
  • Comentaris
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Internet

https://arxiv.org/abs/2406.03301

Ítems similars

  • Strong geometry dependence of the X-ray Thomson Scattering Spectrum in single crystal silicon
    per: Gawne, Thomas, et al.
    Publicat: (2025)
  • Ultrahigh Resolution X-ray Thomson Scattering Measurements at the European XFEL
    per: Gawne, Thomas, et al.
    Publicat: (2024)
  • Model-free interpretation of X-ray Thomson scattering measurements
    per: Gawne, Thomas, et al.
    Publicat: (2026)
  • Orientational Effects in the Low Pair Continuum of Aluminium
    per: Gawne, Thomas, et al.
    Publicat: (2025)
  • Orientational Effects in the Low Pair Continuum of Aluminium
    per: Thomas Gawne, et al.
    Publicat: (2026)

Opcions de cerca

  • Historial de cerca
  • Cerca avançada

Trobar-ne més

  • Explorar el catàleg
  • Explorar alfabèticament
  • Explora canals
  • Bibliografia recomanada
  • Nous ítems

Necessites ajuda?

  • Consells de cerca
  • Pregunteu al bibliotecari
  • FAQs