Skip to content
VuFind
  • Prijava
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Napredno
  • Citiraj
  • Pošljite SMS
  • Pošljite email
  • Natisni
  • Izvozi zadetek
    • Izvozi v RefWorks
    • Izvozi v EndNoteWeb
    • Izvozi v EndNote
  • Dodaj v priljubljene
  • Permanent link
Slika na naslovnici

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Main Authors: Gawne, Thomas, Bellenbaum, Hannah, Fletcher, Luke B., Appel, Karen, Baehtz, Carsten, Bouffetier, Victorien, Brambrink, Erik, Brown, Danielle, Cangi, Attila, Descamps, Adrien, Göde, Sebastian, Hartley, Nicholas J., Herbert, Marie-Luise, Hesselbach, Philipp, Höppner, Hauke, Humphries, Oliver S., Konôpková, Zuzana, Garcia, Alejandro Laso, Lindqvist, Björn, Lütgert, Julian, MacDonald, Michael J., Makita, Mikako, Martin, Willow, Mishchenko, Mikhail, Moldabekov, Zhandos A., Nakatsutsumi, Motoaki, Naedler, Jean-Paul, Neumayer, Paul, Pelka, Alexander, Qu, Chongbing, Randolph, Lisa, Rips, Johannes, Toncian, Toma, Vorberger, Jan, Wollenweber, Lennart, Zastrau, Ulf, Kraus, Dominik, Preston, Thomas R., Dornheim, Tobias
Format: Preprint
Izdano: 2024
Teme:
Plasma Physics
Instrumentation and Detectors
Online dostop:https://arxiv.org/abs/2406.03301
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
  • Zaloga
  • Opis
  • Kazalo
  • Komentarji
  • Podobne knjige/članki
  • Knjižničarski pogled
Komentirajte kot prvi!
Najprej se morate prijaviti

Podobne knjige/članki

  • Strong geometry dependence of the X-ray Thomson Scattering Spectrum in single crystal silicon
    od: Gawne, Thomas, et al.
    Izdano: (2025)
  • Ultrahigh Resolution X-ray Thomson Scattering Measurements at the European XFEL
    od: Gawne, Thomas, et al.
    Izdano: (2024)
  • Model-free interpretation of X-ray Thomson scattering measurements
    od: Gawne, Thomas, et al.
    Izdano: (2026)
  • Orientational Effects in the Low Pair Continuum of Aluminium
    od: Gawne, Thomas, et al.
    Izdano: (2025)
  • Orientational Effects in the Low Pair Continuum of Aluminium
    od: Thomas Gawne, et al.
    Izdano: (2026)

Iskalne možnosti

  • Iskalna zgodovina
  • Napredno iskanje

Poišči več

  • Prelistaj katalog
  • Po abecedi
  • Explore Channels
  • Obvezna literatura
  • Novi knjige/članki

Potrebujete pomoč?

  • Navodila za iskanje
  • Vprašaj knjižničarja
  • Pogosta vprašanja