Risultati della ricerca - Gee, Hal

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  1. 1
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    Correlation Revival Eigenmodes for Differential Sensitivity in Speckle Metrology Autoría: Gee, Hal, Facchin, Morgan, Bruce, Graham D.

    Pubblicazione 2026
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  2. 2
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    Fiber-based high-speed fringe projection profilometry Autoría: Johnson, Steven, Gee, Hal, Nwachi, Faith, Mekhail, Simon Peter

    Pubblicazione 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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