Risultati della ricerca - Inge Nys
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High‐Density Topological Defect Array by Two‐Step Interference Photoalignment Autoría: Sunqian Liu, Inge Nys, Kristiaan Neyts
Pubblicazione 2026Fuente: Wiley Open AccessTipo de material: Artículo Open AccessAcceso al recurso -
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Electrically Switchable Multi‐Stable Topological States Enabled by Surface‐Induced Frustration in Nematic Liquid Crystal Cells Autoría: Jelto Neirynck, Yu‐Tung Hsiao, Migle Stebryte, Inge Nys
Pubblicazione 2025Fuente: Wiley Open AccessTipo de material: Artículo Open AccessAcceso al recurso -
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30‐1: Invited Paper: Chiral liquid crystal layers with patterned photoalignment for thin diffractive optical components Autoría: Kristiaan Neyts, Migle Stebryte, Rohan Sharma, Jeroen Beeckman, Inge Nys
Pubblicazione 2024Fuente: Wiley Open AccessTipo de material: Artículo Open AccessAcceso al recurso -
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93‐1: Efficient Large‐Angle Diffraction using Patterned Chiral Liquid Crystal Autoría: Kristiaan Neyts, Migle Stebryte, Rohan Sharma, Xu Ke, Pouya Nosratkhah, Le Zhou, Inge Nys
Pubblicazione 2025Fuente: Wiley Open AccessTipo de material: Artículo Open AccessAcceso al recurso -
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45‐1: Invited Paper: Efficient large angle diffraction based on patterned chiral liquid crystal Autoría: Kristiaan Neyts, Migle Stebryte, Rohan Sharma, Ke Xu, Pouya Nosratkhah, Le Zhou, Inge Nys
Pubblicazione 2025Fuente: Wiley Open AccessTipo de material: Artículo Open AccessAcceso al recurso