Risultati della ricerca - Innocent Toendepi

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    Temperature‐Mediated Defect Engineering in Cu 2‐x S for Tailoring Dielectric Response Properties di Bo Sun, Zhao Yang, Jinyao Yin, Hui‐Ya Wang, Tian Mai, Innocent Toendepi, Qian Chen, Juan Matmin, Yaofeng Zhu

    Pubblicazione 2026
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