Risultati della ricerca - Purbasha Ray

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    High‐Throughput Ellipsometric Contrast Microscopy of Lateral 2D Heterostructures for Optoelectronics Autoría: Teja Potočnik, Oliver Burton, Suman K. Chakraborty, Purbasha Ray, Ralf Mouthaan, Peter J. Christopher, Zeinab Tirandaz, Xiaofan Lin, Hannah J. Joyce, Stephan Hofmann, Prasana K. Sahoo, Jack A. Alexander‐Webber

    Pubblicazione 2025
    Fuente: Wiley Open Access
    Tipo de material: Artículo Open Access
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