Risultati della ricerca - Qingping Lin

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    P‐1.18: Analysis of Hump Characteristic under Positive Bias Temperature Stress in Amorphous InGaZnO Thin‐Film Transistors Autoría: Xiaoliang Zhou, Qingping Lin, Hejing Sun, Haozhou Sun, Yanling Chen, Zhiwei Tan

    Pubblicazione 2025
    Fuente: Wiley Open Access
    Tipo de material: Artículo Open Access
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