Résultats de la recherche - Sujong Kim

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    Quantitative Analysis on the Interaction Between Channel Carrier and Remote Trap in Hf x Zr 1‐x O 2 /SiO 2 Interface in Ferroelectric Field‐Effect‐Transistor Autoría: Haneul Lee, Sujong Kim, Changhyeon Han, Haesung Kim, Hyojin Yang, Sejun Park, Sanghyuk Yun, Yoon Jung Lee, Sung‐Jin Choi, Dae Hwan Kim, Dong Myong Kim, Daewoong Kwon, Jong‐Ho Bae

    Publié 2025
    Fuente: Wiley Open Access
    Tipo de material: Artículo Open Access
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