Surface Local Impurity Scattering as a Probe for Topological Kondo Insulators

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Wang, C. -C. Joseph, Julien, Jean-Pierre, Balatsky, A. V., Zhu, Jian-Xin
Formato:	Preprint
Publicado:	2014
Materias:	Strongly Correlated Electrons
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/1402.6774