Thermal Boundary Resistance Measurement and Analysis Across SiC/SiO2 Interface

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Deng, Shichen, Xiao, Chengdi, Yuan, Jiale, Ma, Dengke, Li, Junhui, Yang, Nuo, He, Hu
Formato: Preprint
Publicado: 2019
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