Buchumschlag

Source Shot Noise Mitigation in Focused Ion Beam Microscopy by Time-Resolved Measurement

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Peng, Minxu, Murray-Bruce, John, Berggren, Karl K., Goyal, Vivek K
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:	Materials Science Instrumentation and Detectors
Online-Zugang:	Acceder al recurso
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Ähnliche Einträge

Quantifying the Full Damage Profile of Focused Ion Beams via 4D-STEM Precession Electron Diffraction and PSNR Metrics
von: Masteghin, M. G., et al.
Veröffentlicht: (2025)

Electron Energy Loss Spectroscopy of 2D Materials in a Scanning Electron Microscope
von: Simonaitis, John W., et al.
Veröffentlicht: (2024)

Noise2Void for Denoising Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy Images
von: Thornley, William, et al.
Veröffentlicht: (2026)

Noise Estimation and Suppression in Quantitative EMCD Measurements
von: Makino, Hitoshi, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Aluminum Relaxation as the Source of Excess Low Energy Events in Low Threshold Calorimeters
von: Romani, Roger K.
Veröffentlicht: (2024)

Open Gas-Cell Transmission Electron Microscopy at 50 pm Resolution
von: Biran, Idan, et al.
Veröffentlicht: (2025)

High Dynamic Range Scanning Tunneling Microscopy
von: Karić, Ajla, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Electronic Conductivity Measurements in Solid Electrolytes Using an Ion Blocking Microelectrode: Noise Rejection Based on a Median Filter
von: Gunes, Veyis, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Scanning Transmission Electron Microscopy of Oxide Interfaces and Heterostructures
von: Spurgeon, Steven R.
Veröffentlicht: (2020)

Multislice Hollow Ptychography for Simultaneous Atomic-Layer-Resolved 3D Structural Imaging and Spectroscopy
von: Lei, Yu, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Shot noise-mitigated secondary electron imaging with ion count-aided microscopy
von: Agarwal, Akshay, et al.
Veröffentlicht: (2023)

A procedure to characterize the performance of Energy-Resolved Detectors (EDX)
von: Iguaz, F. J., et al.
Veröffentlicht: (2024)

Automating Nanoindentation: Optimizing Workflows for Precision and Accuracy
von: Chawla, Vivek, et al.
Veröffentlicht: (2025)

BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization
von: Pattison, Alexander J., et al.
Veröffentlicht: (2024)

Deep Learning Enabled Nanoscale X-ray Photoemission Electron Microscopy (nanoXPEEM)
von: Mishra, Aashwin, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Time-tagging data acquisition system for testing superconducting electronics based on an RFSoC and custom analog frontend
von: Foster, Reed A., et al.
Veröffentlicht: (2025)

A Transformer-based Model for Rapid Microstructure Inference from Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Data
von: Je, Kwanghwi, et al.
Veröffentlicht: (2026)

Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy for Multi-Material Strain Mapping
von: Sendra, Joan, et al.
Veröffentlicht: (2023)

Detective Quantum Efficiency of the Timepix4 Hybrid Pixel Detector and its Application to Parallel-Beam Diffraction
von: Ding, Zhiyuan, et al.
Veröffentlicht: (2026)

Calorimetric Wire Detector for Measurement of Atomic Hydrogen Beams
von: Astaschov, M., et al.
Veröffentlicht: (2025)

Laser, Vacuum, and Gas Reaction Chamber for Operando Measurements at NSLS-II's 28-ID-2
von: Moghimi, Lauren Y., et al.
Veröffentlicht: (2025)

Direct Two-Dimensional Goniometric Steering of Vacuum Electrospray Ion Beams for Angular Time-of-Flight Studies
von: Ulibarri, Zach, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Multi-Mode Lens for Momentum Microscopy and XPEEM: Theory
von: Tkach, Olena, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Standardizing Force Reconstruction in Dynamic Atomic Force Microscopy
von: Laflamme, Simon, et al.
Veröffentlicht: (2025)

MacroQueue: Automating Measurements in High-Dimensional Parameter Spaces
von: Goff, Brad M., et al.
Veröffentlicht: (2024)

Mic-hackathon 2024: Hackathon on Machine Learning for Electron and Scanning Probe Microscopy
von: Pratiush, Utkarsh, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Defect Detection in Magnetic Systems Using U-Net and Statistical Measures
von: Knapman, Ross, et al.
Veröffentlicht: (2026)

Exposure of Track Detectors in Xenon Ion Beams in NICA Accelerator Complex
von: Zaitsev, A. A., et al.
Veröffentlicht: (2024)

Devices for Thermal Conductivity Measurements of Electroplated Bi for X-ray TES Absorbers
von: Quaranta, Orlando, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Measuring the buried interphase between solid electrolytes and lithium metal using neutrons
von: Westover, Andrew S., et al.
Veröffentlicht: (2025)

Bridging the Gap between Extreme Environments and Precision Measurements: Recent Progress in Megagauss Physics
von: Takeyama, Shojiro
Veröffentlicht: (2026)

afspm: A Framework for Manufacturer-Agnostic Automation in Scanning Probe Microscopy
von: Sullivan, Nicholas J., et al.
Veröffentlicht: (2025)

Quantifying Resolution in Pink Beam Dark Field X-ray Microscopy: Experiments and Simulations
von: La Bella, Michela, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Precise, Sub-Nanosecond, and High-Voltage Switching of Complex Loads Enabled by Gallium Nitride Electronics
von: Simonaitis, John W., et al.
Veröffentlicht: (2021)

A compact inertial nano-positioner operating at cryogenic temperatures
von: Das, Pritam, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Multiscale Microscopy via Automation: Dual Magnification ESEM Imaging by Frame Alternation
von: Vuijk, Maurits, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Electronic Trap Detection with Carrier-Resolved Photo-Hall Effect
von: Gunawan, Oki, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Accurate Reporting of Ion Time-of-Flight during HiPIMS with Gated Front-End Mass Spectrometry
von: Rodkey, Nathan, et al.
Veröffentlicht: (2025)

Improving the Accuracy of Temperature Measurement on TEM samples using Plasmon Energy Expansion Thermometry (PEET): Addressing Sample Thickness Effects
von: Yang, Yi-Chieh, et al.
Veröffentlicht: (2024)

Advanced Techniques in Automated High Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy
von: Pattison, Alexander, et al.
Veröffentlicht: (2023)