Nikolaev, K. V., Soltwisch, V., Hoenicke, P., Scholze, F., de la Rie, J., Yakunin, S. N., . . . Bijkerk, F. (2019). A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nano structures using grazing-incidence X-ray fluorescence.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Nikolaev, K. V., V. Soltwisch, P. Hoenicke, F. Scholze, J. de la Rie, S. N. Yakunin, I. A. Makhotkin, R. W. E. van de Kruijs, und F. Bijkerk. A Semi-analytical Approach for the Characterization of Ordered 3D Nano Structures Using Grazing-incidence X-ray Fluorescence. 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Nikolaev, K. V., et al. A Semi-analytical Approach for the Characterization of Ordered 3D Nano Structures Using Grazing-incidence X-ray Fluorescence. 2019.
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