A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nano structures using grazing-incidence X-ray fluorescence

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Nikolaev, K. V., Soltwisch, V., Hoenicke, P., Scholze, F., de la Rie, J., Yakunin, S. N., Makhotkin, I. A., van de Kruijs, R. W. E., Bijkerk, F.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2019
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!