Nanometric precision distance metrology via chip-scale soliton microcombs

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Jang, Yoon-Soo, Liu, Hao, Yang, Jinghui, Yu, Mingbin, Kwong, Dim-Lee, Wong, Chee Wei
Formato: Preprint
Publicado: 2020
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