A model and method for analyzing the precision of binary measurement methods based on beta-binomial distributions, and related statistical tests

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Takeshita, Jun-ichi, Suzuki, Tomomichi
Formato:	Preprint
Publicado:	2020
Materias:	Applications Methodology 62K99 (Primary), 62P30, 62P99 (Secondary)
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2008.13619