Tan, J., Hou, B., Batten, J., Qiu, H., & Kainz, B. (2020). Detecting Outliers with Foreign Patch Interpolation.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Tan, Jeremy, Benjamin Hou, James Batten, Huaqi Qiu, e Bernhard Kainz. Detecting Outliers with Foreign Patch Interpolation. 2020.
Citatione MLA (9a ed.)Tan, Jeremy, et al. Detecting Outliers with Foreign Patch Interpolation. 2020.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.