Instrument for in situ hard x-ray nanobeam characterization during epitaxial crystallization and materials transformations

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Marks, Samuel D., Quan, Peiyu, Liu, Rui, Highland, Matthew J., Zhou, Hua, Keuch, Thomas F., Stephenson, G. Brian, Evans, Paul G.
Formato:	Preprint
Publicado:	2020
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2012.00516