We Can Always Catch You: Detecting Adversarial Patched Objects WITH or WITHOUT Signature

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Li, Jiachun, Feng, Jianan, Huang, Jianjun, Liang, Bin
Formato:	Preprint
Publicado:	2021
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Cryptography and Security
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2106.05261