Scattering Loss in Precision Metrology due to Mirror Roughness

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Drori, Yehonathan, Eichholz, Johannes, Edo, Tega, Yamamoto, Hiro, Enomoto, Yutaro, Venugopalan, Gautam, Arai, Koji, Adhikari, Rana X
Formato:	Preprint
Publicado:	2022
Materias:	Optics Instrumentation and Detectors Quantum Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2201.05640