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Factors that control stability, variability, and reliability issues of endurance cycle in ReRAM devices: a phase field study

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Roy, Arijit, Cho, Min-Gyu, Cha, Pil-Ryung
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2022
Schlagworte:	Applied Physics Materials Science
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