Scalable $\rm Al_2O_3-TiO_2$ Conductive Oxide Interfaces as Defect Reservoirs for Resistive Switching Devices

Fuente: arXiv
Salvato in:
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Autori principali: Li, Yang, Wang, Wei, Zhang, Di, Baskin, Maria, Chen, Aiping, Kvatinsky, Shahar, Yalon, Eilam, Kornblum, Lior
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2022
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