Scalable $\rm Al_2O_3-TiO_2$ Conductive Oxide Interfaces as Defect Reservoirs for Resistive Switching Devices

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Li, Yang, Wang, Wei, Zhang, Di, Baskin, Maria, Chen, Aiping, Kvatinsky, Shahar, Yalon, Eilam, Kornblum, Lior
Formato:	Preprint
Publicado:	2022
Materias:	Applied Physics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2202.04477