Industrially Microfabricated Ion Trap with 1 eV Trap Depth

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Auchter, S., Axline, C., Decaroli, C., Valentini, M., Purwin, L., Oswald, R., Matt, R., Aschauer, E., Colombe, Y., Holz, P., Monz, T., Blatt, R., Schindler, P., Rössler, C., Home, J.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2022
Schlagworte:	Quantum Physics Applied Physics Atomic Physics
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https://arxiv.org/abs/2202.08244