Post-deposition annealing and interfacial ALD buffer layers of Sb$_2$Se$_3$/CdS stacks for reduced interface recombination and increased open-circuit voltages

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Weiss, Thomas Paul, Minguez-Bacho, Ignacio, Zuccalà, Elena, Melchiorre, Michele, Valle, Nathalie, Adib, Brahime El, Yokosawa, Tadahiro, Spiecker, Erdmann, Bachmann, Julien, Dale, Phillip J., Siebentritt, Susanne
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2022
Schlagworte:	Materials Science
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https://arxiv.org/abs/2204.13138