Density functional theory calculations for investigation of atomic structures of 4H-SiC/SiO$_2$ interface after NO annealing

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Komatsu, Naoki, Ohmoto, Mizuho, Uemoto, Mitsuharu, Ono, Tomoya
Formato: Preprint
Publicado: 2022
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