Ultrafast Electron Microscopy of Nanoscale Charge Dynamics in Semiconductors

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Yannai, Michael, Dahan, Raphael, Gorlach, Alexey, Adiv, Yuval, Wang, Kangpeng, Madan, Ivan, Gargiulo, Simone, Barantani, Francesco, Dias, Eduardo J. C., Vanacore, Giovanni Maria, Rivera, Nicholas, Carbone, Fabrizio, de Abajo, F. Javier García, Kaminer, Ido
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2022
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