Criticality-Based Quantum Metrology in the Presence of Decoherence

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: He, Wan-Ting, Lu, Cong-Wei, Yao, Yi-Xuan, Zhu, Hai-Yuan, Ai, Qing
Formato: Preprint
Publicado: 2022
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