Electronic Origin of High-Tc Maximization and Persistence in Trilayer Cuprate Superconductors

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Luo, Xiangyu, Chen, Hao, Li, Yinghao, Gao, Qiang, Yin, Chaohui, Yan, Hongtao, Miao, Taimin, Luo, Hailan, Shu, Yingjie, Chen, Yiwen, Lin, Chengtian, Zhang, Shenjin, Wang, Zhimin, Zhang, Fengfeng, Yang, Feng, Peng, Qinjun, Liu, Guodong, Zhao, Lin, Xu, Zuyan, Xiang, Tao, Zhou, X. J.
Formato: Preprint
Publicado: 2022
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