A Comprehensive Survey on Edge Data Integrity Verification: Fundamentals and Future Trends

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Zhao, Yao, Qu, Youyang, Xiang, Yong, Uddin, Md Palash, Peng, Dezhong, Gao, Longxiang
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2022
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