Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Reinke, Annika, Tizabi, Minu D., Baumgartner, Michael, Eisenmann, Matthias, Heckmann-Nötzel, Doreen, Kavur, A. Emre, Rädsch, Tim, Sudre, Carole H., Acion, Laura, Antonelli, Michela, Arbel, Tal, Bakas, Spyridon, Benis, Arriel, Blaschko, Matthew, Buettner, Florian, Cardoso, M. Jorge, Cheplygina, Veronika, Chen, Jianxu, Christodoulou, Evangelia, Cimini, Beth A., Collins, Gary S., Farahani, Keyvan, Ferrer, Luciana, Galdran, Adrian, van Ginneken, Bram, Glocker, Ben, Godau, Patrick, Haase, Robert, Hashimoto, Daniel A., Hoffman, Michael M., Huisman, Merel, Isensee, Fabian, Jannin, Pierre, Kahn, Charles E., Kainmueller, Dagmar, Kainz, Bernhard, Karargyris, Alexandros, Karthikesalingam, Alan, Kenngott, Hannes, Kleesiek, Jens, Kofler, Florian, Kooi, Thijs, Kopp-Schneider, Annette, Kozubek, Michal, Kreshuk, Anna, Kurc, Tahsin, Landman, Bennett A., Litjens, Geert, Madani, Amin, Maier-Hein, Klaus, Martel, Anne L., Mattson, Peter, Meijering, Erik, Menze, Bjoern, Moons, Karel G. M., Müller, Henning, Nichyporuk, Brennan, Nickel, Felix, Petersen, Jens, Rafelski, Susanne M., Rajpoot, Nasir, Reyes, Mauricio, Riegler, Michael A., Rieke, Nicola, Saez-Rodriguez, Julio, Sánchez, Clara I., Shetty, Shravya, van Smeden, Maarten, Summers, Ronald M., Taha, Abdel A., Tiulpin, Aleksei, Tsaftaris, Sotirios A., Van Calster, Ben, Varoquaux, Gaël, Wiesenfarth, Manuel, Yaniv, Ziv R., Jäger, Paul F., Maier-Hein, Lena
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2023
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