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Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation

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Auteurs principaux: Reinke, Annika, Tizabi, Minu D., Baumgartner, Michael, Eisenmann, Matthias, Heckmann-Nötzel, Doreen, Kavur, A. Emre, Rädsch, Tim, Sudre, Carole H., Acion, Laura, Antonelli, Michela, Arbel, Tal, Bakas, Spyridon, Benis, Arriel, Blaschko, Matthew, Buettner, Florian, Cardoso, M. Jorge, Cheplygina, Veronika, Chen, Jianxu, Christodoulou, Evangelia, Cimini, Beth A., Collins, Gary S., Farahani, Keyvan, Ferrer, Luciana, Galdran, Adrian, van Ginneken, Bram, Glocker, Ben, Godau, Patrick, Haase, Robert, Hashimoto, Daniel A., Hoffman, Michael M., Huisman, Merel, Isensee, Fabian, Jannin, Pierre, Kahn, Charles E., Kainmueller, Dagmar, Kainz, Bernhard, Karargyris, Alexandros, Karthikesalingam, Alan, Kenngott, Hannes, Kleesiek, Jens, Kofler, Florian, Kooi, Thijs, Kopp-Schneider, Annette, Kozubek, Michal, Kreshuk, Anna, Kurc, Tahsin, Landman, Bennett A., Litjens, Geert, Madani, Amin, Maier-Hein, Klaus, Martel, Anne L., Mattson, Peter, Meijering, Erik, Menze, Bjoern, Moons, Karel G. M., Müller, Henning, Nichyporuk, Brennan, Nickel, Felix, Petersen, Jens, Rafelski, Susanne M., Rajpoot, Nasir, Reyes, Mauricio, Riegler, Michael A., Rieke, Nicola, Saez-Rodriguez, Julio, Sánchez, Clara I., Shetty, Shravya, van Smeden, Maarten, Summers, Ronald M., Taha, Abdel A., Tiulpin, Aleksei, Tsaftaris, Sotirios A., Van Calster, Ben, Varoquaux, Gaël, Wiesenfarth, Manuel, Yaniv, Ziv R., Jäger, Paul F., Maier-Hein, Lena
Format: Preprint
Publié: 2023
Sujets:
Computer Vision and Pattern Recognition
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