Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy for Multi-Material Strain Mapping

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Sendra, Joan, Haake, Fabian, Calvo, Micha, Galinski, Henning, Spolenak, Ralph
Formato: Preprint
Publicado: 2023
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