Near-field Imaging of Optical Resonances in Silicon Metasurfaces Using Photoelectron Microscopy

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Boehm, Alex, Gennaro, Sylvain D., Doiron, Chloe F., Beechem, Thomas E., Sinclair, Michael B., Brener, Igal, Sarma, Raktim, Ohta, Taisuke
Formato: Preprint
Publicado: 2023
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!