ESD: Expected Squared Difference as a Tuning-Free Trainable Calibration Measure

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yoon, Hee Suk, Tee, Joshua Tian Jin, Yoon, Eunseop, Yoon, Sunjae, Kim, Gwangsu, Li, Yingzhen, Yoo, Chang D.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2023
Schlagworte:	Machine Learning Artificial Intelligence Computation and Language Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2303.02472