A Meta-analytical Comparison of Naive Bayes and Random Forest for Software Defect Prediction

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Awais, Ch Muhammad, Gu, Wei, Dlamini, Gcinizwe, Kholmatova, Zamira, Succi, Giancarlo
Formato: Preprint
Publicado: 2023
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!