"False negative -- that one is going to kill you": Understanding Industry Perspectives of Static Analysis based Security Testing

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ami, Amit Seal, Moran, Kevin, Poshyvanyk, Denys, Nadkarni, Adwait
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Cryptography and Security Software Engineering
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2307.16325