"False negative -- that one is going to kill you": Understanding Industry Perspectives of Static Analysis based Security Testing

Fuente: arXiv
Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Ami, Amit Seal, Moran, Kevin, Poshyvanyk, Denys, Nadkarni, Adwait
Format: Preprint
Publié: 2023
Sujets:
Accès en ligne:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!