Optical interferometer using two-mode squeezed light for enhanced chip-integrated quantum metrology

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Tritschler, Patrick, Ohms, Torsten, Zimmermann, André, Zschocke, Fabian, Strohm, Thomas, Degenfeld-Schonburg, Peter
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2023
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