Ano-SuPs: Multi-size anomaly detection for manufactured products by identifying suspected patches

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Xu, Hao, Du, Juan, Wang, Andi, Chen, YingCong
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2309.11120