Experimental Limits on Solar Reflected Dark Matter with a New Approach on Accelerated-Dark-Matter-Electron Analysis in Semiconductors

Fuente: arXiv
Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Zhang, Z. Y., Yang, L. T., Yue, Q., Kang, K. J., Li, Y. J., An, H. P., C., Greeshma, Chang, J. P., Chen, Y. H., Cheng, J. P., Dai, W. H., Deng, Z., Fang, C. H., Geng, X. P., Gong, H., Guo, Q. J., Guo, T., Guo, X. Y., He, L., He, S. M., Hu, J. W., Huang, H. X., Huang, T. C., Jiang, L., Karmakar, S., Li, H. B., Li, H. Y., Li, J. M., Li, J., Li, Q. Y., Li, R. M. J., Li, X. Q., Li, Y. L., Liang, Y. F., Liao, B., Lin, F. K., Lin, S. T., Liu, J. X., Liu, S. K., Liu, Y. D., Liu, Y., Liu, Y. Y., Ma, H., Mao, Y. C., Nie, Q. Y., Ning, J. H., Pan, H., Qi, N. C., Ren, J., Ruan, X. C., Singh, M. K., Sun, T. X., Tang, C. J., Tian, Y., Wang, G. F., Wang, J. Z., Wang, L., Wang, Q., Wang, Y. F., Wang, Y. X., Wong, H. T., Wu, S. Y., Wu, Y. C., Xing, H. Y., Xu, R., Xu, Y., Xue, T., Yan, Y. L., Yi, N., Yu, C. X., Yu, H. J., Yue, J. F., Zeng, M., Zeng, Z., Zhang, B. T., Zhang, F. S., Zhang, L., Zhang, Z. H., Zhao, J. Z., Zhao, K. K., Zhao, M. G., Zhou, J. F., Zhou, Z. Y., Zhu, J. J.
Format: Preprint
Published: 2023
Subjects:
Online Access:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!