Impact of interface traps on charge noise, mobility and percolation density in Ge/SiGe heterostructures

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Massai, L., Hetényi, B., Mergenthaler, M., Schupp, F. J., Sommer, L., Paredes, S., Bedell, S. W., Harvey-Collard, P., Salis, G., Fuhrer, A., Hendrickx, N. W.
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2310.05902