Ultralong-term high-density data storage with atomic defects in SiC

Fuente: arXiv
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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Hollenbach, M., Kasper, C., Erb, D., Bischoff, L., Hlawacek, G., Kraus, H., Kada, W., Ohshima, T., Helm, M., Facsko, S., Dyakonov, V., Astakhov, G. V.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2023
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