Ultralong-term high-density data storage with atomic defects in SiC

Fuente: arXiv

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Hollenbach, M., Kasper, C., Erb, D., Bischoff, L., Hlawacek, G., Kraus, H., Kada, W., Ohshima, T., Helm, M., Facsko, S., Dyakonov, V., Astakhov, G. V.
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2023
Soggetti:	Materials Science
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Accesso online

https://arxiv.org/abs/2310.18843