Ultralong-term high-density data storage with atomic defects in SiC

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Hollenbach, M., Kasper, C., Erb, D., Bischoff, L., Hlawacek, G., Kraus, H., Kada, W., Ohshima, T., Helm, M., Facsko, S., Dyakonov, V., Astakhov, G. V.
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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