Uncertainty Quantification using Simulation Output: Batching as an Inferential Device

Fuente: arXiv
Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Jeon, Yongseok, Chu, Yi, Pasupathy, Raghu, Shashaani, Sara
Format: Preprint
Publié: 2023
Sujets:
Accès en ligne:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Documents similaires