Properties of Nb\_xTi\_{(1-x)}N thin films deposited on 300 mm silicon wafers for upscaling superconducting digital circuits

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lozano, Daniel Pérez, Soulié, Jean-Philippe, Hodges, Blake, Piao, Xiaoyu, O'Neal, Sabine, Valente-Feliciano, Anne-Marie, Herr, Quentin, Tőkei, Zsolt, Kim, Min-Soo, Herr, Anna
Formato: Preprint
Publicado: 2023
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!